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              無錫創想分析儀器有限公司

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              什么是偏振X射線熒光光譜儀?

              發布時間:2020-10-27 09:28:14         點擊:3662

                     X射線偏振現象是在1906年由R.Barkla首先發現, 1973Yoyng Dzubay首先把偏振用于EDXRF。21 世紀初相繼利用X射線的偏振和衍射性質開發出了純金屬靶、Barkla靶、Bragg靶等二二次靶,與熒光靶一起用作偏振儀的光源, 2003PANalytical推出了Epsilon 5型偏振儀。


                     當X射線與物質相互作用的散射角為90°時就可產生幾乎完全偏振的X射線。

              真空熒光光譜儀

              真空熒光光譜儀

                     X射線管、二次靶和樣品按照笛卡兒幾何兩兩呈90°放置,原級X射線與偏振靶以90°發生散射后產生高度偏振的X射線,再照射樣品激發出各元素的特征X射線,這種幾何設置可以大幅度降低彈性和非彈性散射X射線造成的探測本底,并且具有一定的選擇激發作用,從而提高峰背比、顯著降低檢出限。

                     常用的純金屬二次靶有AI、Zr、Mo、Co、Pb、Fe、Zn,可產生強單色X射線,適宜于測量特定元素;創想儀器的熒光光源是可選的,以備適宜不同測量特定元素。

                     Barkla靶是由低原子序數元素組成的高密度物質,可產生強多色X射線,適宜于激發Z>22的元索;Bragg靶是一種單晶體,只在某一方向反射特定能量的X射線,通常有LiF、高定向熱解石墨(HOPG),可產生強單色X射線,適宜于激發11≤Z≤22的輕元素。

                     比較了BC4、HOPGAl2O33種靶材對原級X射線散射的影響,發現Al2O3適宜于寬范圍元素的分析。P - EDXRF能增強對痕元素的敏感度、制樣簡便、分析快速、廉價,在植物修復領域有很大的應用潛能,,和高亮度的同步輻射及高性能的X射線透鏡聯合使用可以擴展出新的功能,如元素映射、化學態成像、細胞水平的元素鑒別等。

               

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